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芯片外观缺陷检测机

品牌：致茂电子Chroma

型号：7945

产品简介：用于芯片的可靠性老化寿命实验，芯片采用TO/COC封装形式。

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芯片老化测试机

品牌：致茂电子Chroma

型号：58604

产品简介：用于芯片的可靠性老化寿命实验，芯片采用TO/COC封装形式。

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