膜厚测量系统 - 小龙仪器科技（深圳）有限公司

Bruker布鲁克膜厚仪

品牌：Bruker

型号：2000 PAR-SE/

产品简介：Bruker椭偏仪FilmTek 2000 PAR-SE——用于几乎所有薄膜或产品晶片测量的多模计量

未命名-6

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