半导体设备 - 小龙仪器科技（深圳）有限公司

芯片外观缺陷检测机

品牌：致茂电子Chroma

型号：7945

产品简介：用于芯片的可靠性老化寿命实验，芯片采用TO/COC封装形式。

白色背景图1

芯片老化测试机

品牌：致茂电子Chroma

型号：58604

产品简介：用于芯片的可靠性老化寿命实验，芯片采用TO/COC封装形式。

白色背景图

Bruker布鲁克膜厚仪

品牌：Bruker

型号：2000 PAR-SE/

产品简介：Bruker椭偏仪FilmTek 2000 PAR-SE——用于几乎所有薄膜或产品晶片测量的多模计量

未命名-6

关于我们

产品中心

联系方式

咨询热线：

182-7180-6578

商务咨询：

wangxl@xlyqtec.com

公司地址：

深圳市龙华区民治街道北站社区汇隆商务中心1号楼1118

版权所有 © 2024 小龙仪器科技（深圳）有限公司. All rights reserved. | 备案号：粤ICP备2024326736号-1 | 技术支持：迅响科技