半导体设备 - 小龙仪器科技（深圳）有限公司

芯片外观缺陷检测机

品牌：致茂电子Chroma

型号：7945

产品简介：用于芯片的可靠性老化寿命实验，芯片采用TO/COC封装形式。

芯片外观缺陷检测机

芯片老化测试机

品牌：致茂电子Chroma

型号：58604

产品简介：用于芯片的可靠性老化寿命实验，芯片采用TO/COC封装形式。

芯片老化测试机

Bruker布鲁克膜厚仪

品牌：Bruker

型号：2000 PAR-SE/

产品简介：Bruker椭偏仪FilmTek 2000 PAR-SE——用于几乎所有薄膜或产品晶片测量的多模计量

Bruker布鲁克膜厚仪

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