Bruker布鲁克化学机械抛光试验机CMP
品牌:BRUKER
型号:TriboLab CMP
产品简介:专业的研发用台式CMP系统。布鲁克TriboLab CMP工艺与材料表征系统,经过全新设计,可以可靠、灵活、经济有效地表征晶圆抛光工艺。
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描述
产品优势:
- 全面再现晶圆抛光工艺条件
- 提供无与伦比的重复性
- 使用小晶片而不是整个晶圆作测试,节省大量成本
CMP工作原理示意图
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- CMP过程:抛光液中的碱与硅表层发生化学反应,并生成较疏松的硅酸盐(粘附在表层,阻碍深层反应),再通过SiO2胶粒和抛光布垫的机械摩擦而脱离表面,从而实现表层剥离。此过程反复进行,从而对硅片逐层剥离,并实现对硅片的高精度抛光。
- 主要特点:化学反应--机械去除--再反应--再去除……是一种化学作用和机械作用相结合的抛光工艺(二者互相控制)。
- 优点:包含了化学、机械抛光的双重优点。
TriboLab CMP硬件构成:
TriboLab CMP功能:
1.实时监控
- 加载力,摩擦力 (Fz,Fx)
- 抛光垫修复力(Cx,Cz)
- 声发射信号(AE)
- 温度检测(TR)
- 摩擦系数(COF)
- Z,X,Y方向的位移,速度等多个通道信号
2.开放编程
- 测试步骤的添加,设计
- 在测试步骤中通过设置加载方式,加载力(压力/压强),转速(包含上式样,下式样转速可分开设置)抛光液流量,旋转方向等多样参数设置实现个性化实验需求;